AFM : des sondes innovantes et adaptables - Ouest Valorisation

AFM : des sondes innovantes et adaptables

Thématique :
Technologie :

Tranduscteur optomécanique pour améliorer la résolution d’un microscope à force atomique.

La résolution d'un microscope AFM-FM peut être améliorée en permettant à la sonde de se rapprocher davantage de la surface de l'échantillon, tout en conservant une précision élevée. De plus, il est nécessaire de rendre les sondes AFM adaptables à une variété de surfaces, qu'elles soient solides, liquides ou hétérogènes.

L’innovation consiste à utiliser un matériau photoactif pour modifier la rigidité mécanique d’une sonde AFM. Le matériau, lorsqu’il est irradié par une lumière laser, va changer de forme et impacter la raideur de la sonde AFM. Ainsi, les sondes AFM obtenues grâce à cette innovation offrent des bénéfices innovants tels que l'adaptabilité à tous types de matériaux et d'échantillons, l'amélioration de la résolution grâce à la photomodulation et l'observation en temps réel. Ces sondes peuvent être utilisées pour les systèmes biologiques ou dynamiques. Elles présentent des avantages significatifs, notamment un faible coût de production, une facilité et une rapidité de fabrication du matériau photoactif. L’utilisation de ces sondes élargit les possibilités pour des applications telles que la nano/micro rhéologie, la caractérisation de matériaux, ainsi que pour le domaine de la biologie. En résumé, cette innovation offre un potentiel significatif pour améliorer la précision des mesures et ouvre de nouvelles perspectives pour les utilisateurs de microscope à force atomique.

Cette solution est faite pour vous si vous êtes :

  • Une entreprise qui souhaite utiliser la solution
  • Une entreprise qui souhaite commercialiser la solution
  • Une entreprise qui souhaite adapter la solution à son besoin
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Picto fusée
Stade de
développement

TRL4 - Démonstration en laboratoire

Picto laboratoire
Laboratoire
de recherche

UMR 6200 - MOLTECH

Picto recherche
Équipe
de recherche

Equipe SAMSON - Spectroscopie Atomique et Moléculaire, Structuration de Surfaces et Optique Non-linéaire

Picto idée
Propriété
intellectuelle associée

FR : FR2101161 - déposé le 06/02/2021
WO - US

DV 4192 - AFM : des sondes innovantes et adaptables

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